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電池芯片老化高低溫試驗箱廠家可以用來考核和確定電工電子產品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內溫度的均勻性。為限制輻射影響，設備內壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8％，且試驗樣品不會受到設備內加熱與冷卻元件的直接輻射。
高低溫試驗箱廠家參 照 標 準
本產品滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術條件》進行設計制造，可進行相應高、低溫環(huán)境試驗。
高低溫試驗箱廠家主要技術參數
電池芯片老化高低溫試驗箱廠家產品特點:
1、箱體外膽采用SECC鋼板噴塑，數控機床加工成型，造型美觀大方、新穎并采用無反作用把手，操作簡便。
2、采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕準確可靠。
3、大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且采用三層真空玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。
4、設有獨立限溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷，確保實驗安全運行不發(fā)生意外。
5、試驗箱箱體左側配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。
6、機器底部采用高品質可固定式PU活動輪。
二，Y-HZ-100L高低溫試驗箱
標準型號和尺寸（也可按客戶要求生產）（單位:mm）：
型號 Y-HE-80G 內形尺寸:W×H×D 450×500×400 外形尺寸：650×1500×950
型號 Y-HE-150G 內形尺寸:W×H×D 500×600×500 外形尺寸：750×1600×1050
型號 Y-HE-225G 內形尺寸:W×H×D 500×750×600 外形尺寸：1000×1650×1200
型號 Y-HE-408G 內形尺寸:W×H×D 600×850×800 外形尺寸：1100×1750×1400
型號 Y-HE-800G 內形尺寸:W×H×D 1000×1000×800 外形尺寸：1500×1900×1400
型號 Y-HE-1000G內形尺寸:W×H×D 1000×1000×1000外形尺寸：1500×1900×1600